電子產(chǎn)品器件密度不斷提高，從第1代電子管產(chǎn)品到第二代晶體管，中小規(guī)模集成電路已經(jīng)進入大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。電子產(chǎn)品正朝著小型化、小型化的方向發(fā)展。結(jié)果，器件的密度不斷增大，使得器件內(nèi)部溫度升高，散熱條件惡化。電子元器件的可靠性會隨著環(huán)境溫度的升高而降低，因此電子元器件的可靠性問題備受關(guān)注。可靠性測試已被列為檢驗和試驗產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標。長期以來，人們只把產(chǎn)品的技術(shù)性能指標作為衡量電子元器件質(zhì)量的標志，只反映了產(chǎn)品質(zhì)量的一個方面，也不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全局。因為如果產(chǎn)品不可靠，即使其技術(shù)性能好，也無法發(fā)揮作用。從某種意義上說，可靠性測試可以多方面反映產(chǎn)品的質(zhì)量。電子電氣產(chǎn)品的可靠性測試是怎樣做的?都有什么檢測項目?可靠性測試報告

    MTBF驗證實驗：MTBF是當前各行業(yè)產(chǎn)品的重要可靠性指標，它標識了產(chǎn)品的平均無故障工作時間。MTBF英文全稱是“MeanTimeBetweenFailure”。是衡量一個產(chǎn)品（尤其是電器產(chǎn)品）的可靠性指標。單位為“小時”。它反映了產(chǎn)品的時間質(zhì)量，是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時間內(nèi)保持功能的一種能力。具體來說，是指相鄰兩次故障之間的平均工作時間，也稱為平均故障間隔。概括地說，產(chǎn)品故障少的就是可靠性高，產(chǎn)品的故障總數(shù)與壽命單位總數(shù)之比叫“故障率”（Failurerate）。根據(jù)MTBF能計算產(chǎn)品的失效率(Failurerate)故障率（Failurerate）:在單位時間內(nèi)（一般以年為單位），產(chǎn)品的故障總數(shù)與運行的產(chǎn)品總數(shù)之比叫做故障率，常用λ表示。例如，共有100臺設(shè)備運行，一年之內(nèi)出了2次故障，那么該設(shè)備的故障率為2/100=。當產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布（見下圖）時，故障率的倒數(shù)就是MTBF，即平均故障間隔時間。例如某產(chǎn)品A的MTBF為22萬小時。22萬小時約為25年，并不是說A產(chǎn)品能工作25年不出故障。因為MTBF=1/λ,所以可以計算出故障率λ=1/MTBF=1/25=4%,即A產(chǎn)品的平均年故障率為4%，一年內(nèi)。 上海汽車可靠性測試報告恒溫恒濕測試是對產(chǎn)品進行的一種環(huán)境可靠性測試。

假如按照環(huán)境來劃分分類方法的話，可靠性測試可以分為應(yīng)力條件下的模擬測試與現(xiàn)場測試。如果以測試項目劃分的話，可以劃分的方式就比較多了，一般分為環(huán)境測試、加速測試、壽命測試等，各種各樣的特殊測試。假如以測試目的為基準來劃分的話，那么測試可分為篩選、測試、驗收測試以及鑒定測試。我們在進行可靠性測試時，應(yīng)該根據(jù)測試的目的和產(chǎn)品的特性選擇測試類別。比方說電子產(chǎn)品通常會采用振動測試、沖擊測試、溫度測試和濕度測試等項目。

對產(chǎn)品而言，可靠性測試結(jié)果越高就越好。可靠性高的產(chǎn)品，可以長時間正常工作（這正是所有消費者需要得到的），一般來說，研發(fā)和生產(chǎn)成本會較高，但是后期維護費用較少；可靠性低的產(chǎn)品，一般來說，研發(fā)和生產(chǎn)成本會較低，但是后期維護費用較高。從專業(yè)術(shù)語上來說，就是產(chǎn)品的可靠性越高，產(chǎn)品可以無故障工作的時間就越長。產(chǎn)品實際使用的可靠性叫做工作可靠性。工作可靠性又可分為固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性是產(chǎn)品設(shè)計制造者必須確立的可靠性，即按照可靠性規(guī)劃，從原材料和零部件的選用，經(jīng)過設(shè)計、制造、測試，直到產(chǎn)品出產(chǎn)的各個階段所確立的可靠性?？煽啃詼y試是檢驗和試驗產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標。

不管是與人們吃穿住行息息相關(guān)的物質(zhì)生產(chǎn)還是一些對人們具有間接作用的生產(chǎn)，都有他們自己的生產(chǎn)要求和環(huán)境。只有在特定環(huán)境、要求、流程中生產(chǎn)出來的產(chǎn)品，才能流通到大眾手中發(fā)揮他們應(yīng)有的作用。檢驗這些產(chǎn)品是否達到進入市場和投入使用的要求就需要對他們進行可靠性環(huán)境測試。可靠性環(huán)境測試是指某種產(chǎn)品在適宜的生產(chǎn)環(huán)境、規(guī)格要求、行業(yè)標準、功能實現(xiàn)等要求下被生產(chǎn)出來，需要先對這些產(chǎn)品進行相應(yīng)的環(huán)境測試以測試他們是否不會受某種環(huán)境的影響，然后才能將這些產(chǎn)品投入到市場中供給給大眾。環(huán)境可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品可靠性測試方案

安全性測試與可靠性測試有什么區(qū)別？可靠性測試報告

上海天梯檢測技術(shù)有限公司可靠性試驗目的： 可靠性是與電子工業(yè)的發(fā)展密切相關(guān)的，其重要性可從電子產(chǎn)品發(fā)展的三個特點來加以說明。 首先，電子產(chǎn)品的復雜程度在不斷增加。人們較早使用的礦石收音機是非常簡單的，隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機、錄音機、錄放相機、通訊機、雷達、制導系統(tǒng)、電子計算機以及宇航控制設(shè)備，復雜程度不斷地增長。其次，電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴酷。從實驗室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動、宇宙粒子、各種輻射等對電子元器件的影響，導致產(chǎn)品失效的可能性增大。 第三，電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從一代電子管產(chǎn)品進入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。可靠性測試報告

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