AOI是SMT加工當(dāng)中一種檢測設(shè)備,又稱AOI光學(xué)自動檢測設(shè)備,已成為電子制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測工具和過程質(zhì)量控制工具。AOI檢測設(shè)備工作原理是在自動檢測過程中,AOI檢測設(shè)備機(jī)器通過高清CCD攝像頭自動掃描PCBA產(chǎn)品,采集圖像,將測試點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中合格參數(shù)進(jìn)行對比,經(jīng)過圖像處理,檢查出目標(biāo)PCBA上的焊點(diǎn)缺陷,并通過顯示或自動標(biāo)記缺陷。為維修人員維修和SMT工藝人員改進(jìn)工藝參數(shù)。AOI系統(tǒng)包括多種光源照明、高速數(shù)碼相機(jī)、高速直線電機(jī)、精密機(jī)械傳動結(jié)構(gòu)和圖像處理軟件。測試時(shí),AOI設(shè)備通過攝像頭自動掃描和PCB、PCB上的部件或特殊部件(包括印刷錫膏的狀態(tài)、SMD組件、焊點(diǎn)形狀及缺陷等)來捕捉圖像,通過處理和數(shù)據(jù)庫軟件對合格參數(shù)進(jìn)行比較,并綜合判斷元件及特性是否合格,然后測試結(jié)論,如元件缺失、橋接或焊點(diǎn)質(zhì)量問題。 由于電路板尺寸大小的改變提出更多的挑戰(zhàn),越來越多的原設(shè)備制造商采用AOI。專業(yè)AOI原理
AOI技術(shù)向智能化方向發(fā)展是SMT發(fā)展帶來的必然要求。在SMT的微型化、高密度化、快速組裝化、品種多樣化發(fā)展特征下,檢測信息量大而復(fù)雜,無論是在檢測反饋實(shí)時(shí)性方面,還是在分析、診斷的正確性方面,依賴人工對AOI獲取的質(zhì)量信息進(jìn)行分析、診斷幾乎已經(jīng)不可能,代替人工進(jìn)行自動分析、診斷的智能AOI技術(shù)成為發(fā)展的必然。對各種缺陷的特征提取和缺陷識別與分類進(jìn)行研究;針對高密度PCB視覺檢測系統(tǒng)中要檢測的缺陷細(xì)小,缺陷的種類繁多,特征不易確定等問題,對于各種不同缺陷的特征提取技術(shù)和各種分類方式進(jìn)行研究,采用機(jī)器學(xué)習(xí)的方法,設(shè)計(jì)不同的分類器,并對不同分類器的分類效果和誤差進(jìn)行比較和分析,采用優(yōu)化的分類器可以實(shí)現(xiàn)對缺陷的快速檢出和準(zhǔn)確分類,并盡可能地提高分類器的智能化水平。上海AOI品牌AOI是近幾年才興起的一種新型測試技術(shù),但發(fā)展迅速很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。
AOI檢測設(shè)備中常用的紅綠藍(lán)LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源,一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大,灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長光源,比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理,檢測具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段,因材料成分與紅外光譜有對應(yīng)關(guān)系的原理,紅外光源對不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用,甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。特殊光源中,利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化,利用光學(xué)干涉原理的白光干涉(whitelightinterferometry)在特定缺陷檢測中的得到了應(yīng)用,例如通過相干光的干涉圖案計(jì)算出對應(yīng)的相位差和光程差,可以測量出被測物體與參考物體之間的差異,且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長,測量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測的新需求。(下圖為側(cè)光源與同軸光源實(shí)例)
AOI的工作方式與SMT當(dāng)中SPI和印刷機(jī)中使用的視覺系統(tǒng)相同,通常使用設(shè)計(jì)規(guī)則檢查(DRC)和模式識別。DRC方法根據(jù)一些給定的規(guī)則檢查電路圖形(所有的線應(yīng)該在焊點(diǎn)處結(jié)束,所有的引線應(yīng)該至少,所有的引線應(yīng)該至少,等等)。該方法能從算法上保證待測電路的正確性,且具有制作簡單、算法邏輯簡單、處理速度快、程序編輯量小、數(shù)據(jù)占用空間小等特點(diǎn),因此被很多人采用。但該方法確定邊界的能力較差。圖形識別方法是將存儲的數(shù)字圖像與實(shí)際圖像進(jìn)行比較。根據(jù)完整的印刷電路板或根據(jù)模型建立的檢驗(yàn)文件進(jìn)行檢驗(yàn),或根據(jù)計(jì)算機(jī)軸輔助設(shè)計(jì)中編制的檢驗(yàn)程序進(jìn)行檢驗(yàn)。其準(zhǔn)確性取決于所采用的發(fā)牌率和檢驗(yàn)程序,一般與電子測試系統(tǒng)相同,但采集的數(shù)據(jù)量大,對數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)處理要求較高。模式識別方法利用實(shí)際設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)代替DRC中已建立的設(shè)計(jì)原則,具有明顯的優(yōu)勢。取而代之的是自動檢測技術(shù),其在生產(chǎn)中承擔(dān)著重要的角色。對于裝配過程中錯(cuò)誤的前期查找、消除起關(guān)鍵作用。
AOI的全稱是自動光學(xué)檢測,是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測試技術(shù),但發(fā)展迅速,很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。目前AOI的功能一般都比較全,也沒有多大的差別。下面就一些常見的功用作一些簡要的說明。1、分辨率的選擇:AOI的分辨率應(yīng)以像元的尺寸大小作為判別的條件,也就是空間分辨率來衡量。像素的大小不是判別AOI檢出能力的標(biāo)準(zhǔn),準(zhǔn)確地講像素大,是決定單位面積像元尺寸大小的因素。如果單位面積不同,像素再高也沒有可比性。2、特殊功能的選擇:如果你要對多連板的PCBA進(jìn)行檢測,就一定要選擇有跳板功能的AOI,也就是有區(qū)域選擇功能的AOI。如果你將AOI用作質(zhì)量的過程控制,那么,你在選擇AOI時(shí),一定要選擇具有RPC功能的AOI,也就是具有實(shí)時(shí)工藝過程控制的AOI。 AOI通過光的反射、斜面反射、漫反射分別得到元件本體、焊點(diǎn)、焊盤的不同顏色信息。上海智能AOI檢測儀
AOI的光學(xué)圖像系通常CCD線陣相機(jī)、聚集鏡頭、鹵素或LED燈光源及圖像采集卡等組成。專業(yè)AOI原理
AOI技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種AOI檢測方法,其可降低現(xiàn)場操作人員誤判的幾率,提高產(chǎn)品質(zhì)量。為達(dá)上述目的,一種AOI檢測方法,其通過一AOI檢測設(shè)備執(zhí)行,用于檢測待測PCBA板卡,其包括以下步驟:a.啟動一AOI檢測程序,對該待測PCBA板卡上的元件進(jìn)行檢測獲得一檢測數(shù)據(jù),;b.判斷該檢測數(shù)據(jù)是否超過一預(yù)先設(shè)置的閾值,如果是則執(zhí)行步驟c,如果否則執(zhí)行步驟f;c.判斷該待測PCBA板卡的檢測數(shù)據(jù)是否大于一預(yù)先設(shè)置的第二閾值,如果是則執(zhí)行步驟d,如果否則執(zhí)行步驟e;d.判定該待測PCBA板卡為不合格產(chǎn)品并存儲該待測PCBA板卡的檢測結(jié)果;e.根據(jù)現(xiàn)場操作人員的輸入信息,儲存該待測PCBA板卡的檢測結(jié)果;以及f.判定該待測PCBA板卡為合格產(chǎn)品并存儲該待測PCBA板卡的檢測結(jié)果。 專業(yè)AOI原理
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