一個任意多端口網(wǎng)絡的各端口終端均匹配時，由第n個端口輸入的入射行波 an將散射到其余一切端口并 發(fā)射出去。若第m個端口的出射行波為bm，則n口與m口之間的散射參數(shù)Smn=bm/an。一個雙口網(wǎng)絡共有四個散射參數(shù) S11、S21、S12和S22。當兩個終端均匹配時，S11和S22就分別是端口1和2的反射系數(shù)，S21是由1口至2口的傳輸系數(shù)，S12則是反方向的傳輸系數(shù)。當某一端口m終端失配時，由終端反射回來的行波又重新進入m口。這可以等效地看成是m口仍是匹配的，但有一個行波am入射到m口。矢量網(wǎng)絡分析儀可以進行頻譜分析和功率測量，用于評估信號的頻譜特性和功率水平。原廠代理Agilent網(wǎng)絡分析儀E5080B

在實際測量之前，先用三個阻抗已知的標準器（例如一個短路、一個開路和一個匹配負載）供儀器進行一系列測量，稱為校準測量。由實測結果與理想（無儀器誤差時）應有的結果比對，可通過計算求出誤差模型中的各誤差因子并存入計算機中，以便對被測件的測量結果進行誤差修正。在每一頻率點上都按此進行校準和修正。測量步驟和計算都十分復雜，非人工所能勝任。上述網(wǎng)絡分析儀稱為四端口網(wǎng)絡分析儀，因為儀器有四個端口，分別接到信號源、被測件、測量通道和測量的參考通道。它的缺點是接收機的結構復雜，誤差模型中并未包括接收機所產(chǎn)生的誤差。原廠代理是德科技網(wǎng)絡分析儀P9384BE5063A ENA 矢量網(wǎng)絡分析儀（100 kHz 至 18 GHz，2 端口）是適用于無源器件測試的網(wǎng)絡分析儀，可選配 PCB 測試選件。

R&S ZNLE 矢量網(wǎng)絡分析儀

主要特點寬頻率范圍：100 kHz 至 20 GHz適合生產(chǎn)和教育領域輕松配置，直觀易用性能***，經(jīng)濟高效

基礎網(wǎng)絡分析應用的理想之選R&S®ZNLE矢量網(wǎng)絡分析儀易于用戶使用，適用于基礎測量任務聞名遐邇的質(zhì)量設計、創(chuàng)新的用戶界面以及緊湊尺寸使R&S®ZNLE非常適用于矢量網(wǎng)絡分析儀基礎應用。時域分析選件(R&S®ZNL-K2)和故障點距離測量選件(R&S®ZNL-K3)提供重要的通用測試功能，完善了R&S®ZNLE。

1973年又研制出六端口網(wǎng)絡分析儀。它利用一個由定向耦合器和混合接頭（魔 T）組成的六端口網(wǎng)絡作為測量單元，除二個端口分別接信號源和被測件之外，其余四個端口均接到幅值檢波器或功率計。通過檢出的四個幅值的適當組合，可以求出被測網(wǎng)絡散射參數(shù)的模和相位。它不必使用復雜的雙通道接收機來取得相位信息，從而使測量系統(tǒng)的硬件大為簡化。此外，它有超過必需數(shù)目的冗余測量端口，可以利用冗余數(shù)據(jù)之間互相核對來提高測量結果的可信性。但它的計算工作比四端口網(wǎng)絡分析儀要復雜得多。采用雙六端口網(wǎng)絡分析儀來測量雙端口網(wǎng)絡，即用一個六端口網(wǎng)絡儀接在被測網(wǎng)絡的端口1，另一個接在端口2，可在測量過程中避免開關轉(zhuǎn)換或人工倒轉(zhuǎn)被測網(wǎng)絡的輸入端和輸出端，進一步提高了測量的精確度網(wǎng)絡分析儀一種能在寬頻帶內(nèi)進行掃描測量以確定網(wǎng)絡參量的綜合性微波測量儀器。

N5242B PNA-X 微波網(wǎng)絡分析儀，900 Hz/10 MHz 至 26.5 GHz

PNA-X 系列微波網(wǎng)絡分析儀是是德科技在射頻（RF）網(wǎng)絡分析領域內(nèi)長達 40 多年的技術優(yōu)勢和產(chǎn)品創(chuàng)新精神的**作。 這款 PNA-X 分析儀不僅*是一款矢量網(wǎng)絡分析儀，在測量放大器、混頻器和變頻器等有源器件方面，它們也是功能***和靈活的微波測試引擎。 它的硬件包括兩個內(nèi)部信號源、一個信號合路器、S 參數(shù)和噪聲接收機、脈沖調(diào)制器和發(fā)生器以及一組開關和射頻接入點。 這些硬件為進行各種線性和非線性測量提供了功能強大的**，只需通過一組連接與被測器件相連，即可執(zhí)行所有這些測量。 由于測定了網(wǎng)絡的S參數(shù)后，網(wǎng)絡的其它各種特性參量可以從S參數(shù)中導出，因此，微波網(wǎng)絡分析儀具有多種功能。原廠代理Agilent網(wǎng)絡分析儀P9377B

P9375A 是德科技精簡系列 USB 矢量網(wǎng)絡分析儀，26.5 GHz.原廠代理Agilent網(wǎng)絡分析儀E5080B

數(shù)字設計測試用于設計驗證和調(diào)試的數(shù)字設計測試解決方案技術在快速更新迭代，高速數(shù)字標準同樣需要不斷發(fā)展，才能緊跟潮流，保持強大的行業(yè)洞察力。電子工程師需要設計和開發(fā)集成電路板架構，以便滿足這些嚴格的要求。每一代電子設備都會給數(shù)字設計的性能帶來新的挑戰(zhàn)。如果您希望確保數(shù)字系統(tǒng)設計符合日益嚴格的標準，能夠應對不斷出現(xiàn)的挑戰(zhàn)，需要在從設計到完整一致性測試的所有產(chǎn)品開發(fā)階段測試設計。數(shù)字設計測試解決方案必須涵蓋包括互連產(chǎn)品在內(nèi)的多種設計系統(tǒng)，并提供各種測試工具以執(zhí)行抖動測試等不同的測量任務。信號完整性和電源完整性在數(shù)字設計中至關重要。數(shù)據(jù)速率提高、電源電壓減小、集成密度增加，要求降低信號和時鐘的抖動與噪聲閾值。這也會給傳輸通道造成更大的損害（例如引起頻率相關損耗、反射和串擾），并且會加劇電壓暫降和地彈對電源路徑的影響。此外，電源電壓減小會持續(xù)削弱電源路徑的抗干擾性，使信號和時鐘出現(xiàn)抖動和幅度噪聲。原廠代理Agilent網(wǎng)絡分析儀E5080B